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ICT测试盲点原因剖析

时间:2020-08-25| 作者:admin


[敏感词]由ICT测试设备厂家欧洲杯正规下单平台为各人剖析ICT测试盲点的原因。?

 

1.当电阻与跳线并联时,无法丈量电阻

 

2.无法丈量与跳线并联的电感(或变压器,继电器)。

 

3.电感的过失部分是跳线或短路,无法测试。

 

4.小型电容器与小型电阻器并联连接,无法丈量小型电容器。

 

5.电感与电阻器或电容器及其他组件并联连接。电阻或其他组件无法丈量。

 

6.二极管以相同偏向并联连接,并且检测不到缺失的部件之一或空焊。

 

7.不可丈量与小电阻并联组件并联的组件。

 

8.电容器的电容太小,测试通常禁绝确。

 

9. IC,晶体振荡器,可调电阻器(VR),热敏电阻,浪涌吸收器和其他组件的内部性能无法丈量或无法准确测试。

 

10.二极管和晶体管与大电容器并联连接,无法丈量二极管和晶体管。

 

11.组件的崎岖点在同一个短路组中,并且这些组件不可测试。

 

12.在IC空焊测试历程中,如果被测IC的引脚和电容器并联连接,则该引脚如坚决开则不可进行测试。

 

13.小电容器与大电容器(C1 // C2)并联连接,无法丈量小电容器。一般来说,C2的电容是C1的10倍以上。C1是不可预测的。

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